Optris termal mikroskoplar, mikroskobik ölçekte temassız sıcaklık ölçümü sunar. 2× büyütme, yüksek uzamsal çö- zünürlük ve 8 µm’ye kadar detay algılama ile üstün kızılötesi görüntüleme sağlar.
Malzeme bilimi, elektronik ve Ar-Ge uygulamaları için idealdir; optik mikroskopların göremediği sıcaklık dağılımlarını ortaya çıkarır. Mikroelektronik arıza analizi, malzeme karakterizasyo- nu ve kalite kontrol süreçlerinde kullanılarak daha hızlı ve gü- venilir sonuçlar sağlar.
XI400 382 x 288
- Dedektör: FPA, soğutmasız (17 µm)
- Optik çözünürlük: 382×480 piksel
- Spektral aralık: 7.5 – 13 µm
- Sıcaklık aralığı:-20°C … 1500°C
- Ölçüm hızı: 32 Hz
- Termal hassasiyet (NETD): 75 mK
PI640I 640 x 480
- Dedektör: FPA, soğutmasız (17 µm)
- Optik çözünürlük: 640×480 piksel
- Spektral aralık: 8 – 14 µm
- Sıcaklık aralığı:-20°C … 1500°C
- Ölçüm hızı: 80 Hz
- Termal hassasiyet (NETD): 80 mK
PI640I 640 x 480
- Dedektör: FPA, soğutmasız (17 µm)
- Optik çözünürlük: 640×480 piksel
- Spektral aralık: 8 – 14 µm
- Sıcaklık aralığı:-20°C … 500°C
- Ölçüm hızı: 80 Hz
- Termal hassasiyet (NETD): 80 mK
